長鑫存儲取得接觸窗結構、金屬插塞及其形成方法、半導體結構專利,減小了兩者的接觸電阻
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小采
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2024年3月28日消息,據國家知識產權局公告,長鑫存儲技術有限公司取得一項名為“接觸窗結構、金屬插塞及其形成方法、半導體結構“,授權公告號CN114256136B,申請日期為2020年9月。
專利摘要顯示,一種接觸窗結構、金屬插塞及其形成方法,所述接觸窗結構的形成方法、半導體結構,在目標層表面上形成環形墊片,所述環形墊片中間具有暴露出目標層部分表面的中央通孔;形成覆蓋所述基底、目標層和環形墊片的介質層;刻蝕所述介質層,在所述介質層中形成與中央通孔連通的刻蝕孔;沿刻蝕孔和中央通孔去除所述環形墊片,使得中央通孔的尺寸變大,所述刻蝕孔與尺寸變大后的中央通孔構成接觸窗結構。通過形成的環形墊片,在形成接觸窗結構時,通過去除所述環形墊片時,可以使得中央通孔的尺寸變大,從而使得接觸窗結構底部的尺寸會變大,在接觸窗結構中形成金屬插塞時,使得金屬插塞底部與目標層的接觸面積增大,減小了兩者的接觸電阻。